Mentor Graphics近日宣布多媒体芯片设计公司中星微电子(Vimicro)采用Mentor Graphics的TestKompress嵌入确定性测试(EDT)工具和Calibre DRC(设计规则检查)，LVS(板图与原理图对比检查)和xRC(寄生参数提取)工具来提高生产测试效率,并作为其深亚微米工艺设计的Sign-off标准.

　　中星微致力于设计、开发和销售嵌入式多媒体信号处理芯片和解决方案，是中国第一家在纳斯达克成功上市的芯片设计企业。其最新的单芯片综合信号移动多媒体处理器Vinno系列具有极高的集成度，具有MPEG4和H.263视频、MP3、AAC/aacPlus以及WMA音频、视频会议、游戏图形显示以及百万象素拍照处理器、和弦手机铃声、3D立体声和诸多模拟和综合信号电路集成到一个单一芯片等功能。

　　对于如此复杂的芯片，传统的测试工具已经无法满足要求，中星微需要一个具有高级全速测试和压缩能力的生产测试解决方案, 减少测试数据量和测试时间，并保证高端产品的质量和降低测试成本。同时新的解决方案要具有快速诊断和分析能力，帮助迅速提高良率。

　　中星微副总裁朱军表示，“提供给客户的产品质量是中星微最为关注的，利用TestKompress能够让我们在不需要增加测试成本前提下，实施更多的测试来确保我们交付的芯片质量。同时Calibre工具在DRC/LVS、xRC提取和DFM领域的领先地位、以及Mentor Graphics公司强大的技术支持可确保我们量产芯片的成功。”

　　 Mentor Graphics中国区总经理彭启煌指出：“对于复杂的深亚微米IC设计提供者，如何提高测试质量并降低测试成本、迅速提高良率是面临的一大难题。直接和像中星微这样的用户工作在一起，了解他们的需求，提供他们所需要并保证使其成功的测试方案，对我们是非常重要的。Calibre验证工具和TestKompress生产测试方案的组合将为解决深亚微米设计和制造所面临的挑战提供已经过验证的各种解决方法。”　　

　　 关于Mentor Graphics TestKompress和Calibre

　　TestKompress工具是目前可以得到的最先进的ATPG EDT工具。用户轻松地将其整合到任何设计流程中，可提供最高的测试覆盖率，同时显著地 减少了测试向量生成时间。TestKompress提供了范围广泛的故障模型和测试向量类型，以便进行更加彻底的测试、并提供全面的设计规则检查以及针对高性能向量压缩的创新算法。基于ATPG方法，TestKompress工具的特点是显著的压缩性能，相比传统的ATPG工具，可减少多达100X的测试数据量，同时提高了测试质量和降低了测试成本。

　　Calibre芯片设计平台的包含物理验证（DRC/LVS）、寄生参数提取(xRC)、可制造设计 (DFM) 和解析度增强技术(RET)解決方案。Calibre平台是业界标准的物理验证工具，被绝大多数设计公司和代工厂作为sign-off的标准。
 

（源自：电子工程专辑）